印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環節的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數漂移等關鍵失效模式頻發。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統宕機,更常引發設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續提升,而客戶對高要求產品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發,常引發供應商與用戶間的責任糾紛及重大經濟損失。
金屬構件服役環境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
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300小時臺架試驗就穩了?噴嘴焊縫從根部開裂,隱患已經埋下

發布時間: 2026-05-15 00:00
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可靠性試驗中,最棘手的失效場景之一,便是產品在試驗末期突發功能性失效。

某產品噴嘴已在臺架上連續承受300h的高溫高壓交替沖擊,考核臨近終點,然而,系統突然報警——拆檢發現:噴嘴噴射角度嚴重偏離,霧化功能完全喪失。

進一步拆解確認:內部導流片從焊縫處斷裂,溶液沿裂紋直接泄漏,導致噴射結構失穩。

外觀檢查并未發現明顯損傷痕跡——材料、設計、試驗條件似乎都沒有異常。

那么,裂紋究竟從何而來???

本文通過低倍觀察、斷口分析、金相組織檢驗、維氏硬度測試等手段,逐步還原焊縫斷裂的失效根因。

1.低倍觀察:裂紋從內側焊縫“長”出來

首先利用體視顯微鏡進行宏觀觀察。

  • 噴嘴頂部有兩道焊縫,裂紋只出現在內側焊縫上,長度約占整個焊縫圓周的2/3,且近焊縫中心位置。

NG樣品表面低倍圖

NG樣品表面低倍圖

  • 導流片因裂紋而向外翹起,但表面沒有明顯的磕碰或損傷痕跡。

NG樣品表面低倍圖

NG樣品表面低倍圖

初步判斷:裂紋是從內表面向外擴展的,說明起裂源在焊縫內部,而不是外界磕碰導致。


2.斷口分析:柱狀晶“出賣”了焊接強度

將NG樣品沿中間切開,放入掃描電子顯微鏡(SEM)進行觀察分析。

  • 斷口位置1和2(靠近內側):整個斷面上都是凝固時的柱狀晶形貌,裂紋沿著柱狀晶晶面擴展,晶界結合強度差,幾乎沒有看到撕裂韌窩。

NG樣品斷口位置1與2微觀形貌

NG樣品斷口位置1與2微觀形貌

PS:這說明這些位置的焊接強度很低。

  • 斷口位置3和4(靠近外側):大部分區域仍然是柱狀晶,但靠近焊接外表面出現了撕裂韌窩,約占斷口寬度的1/5。

NG樣品斷口位置3與4微觀形貌

NG樣品斷口位置3與4微觀形貌

NG樣品斷口位置3與4微觀形貌

PS:韌窩是塑性變形的典型特征,說明這些位置的焊接強度比內側高一些。

  • 斷口位置5(最內側):又回到了全柱狀晶形貌,焊透情況更差。

NG樣品斷口位置5微觀形貌

NG樣品斷口位置5微觀形貌

關鍵發現:斷口整體以光滑的、無塑性變形的柱狀晶為主,僅局部可見韌窩,這種“沿柱狀晶面開裂”的形貌,正是焊接熱裂紋中“凝固裂紋”的典型特征。同時,能譜分析沒有發現明顯的腐蝕元素或異物,排除了腐蝕誘因。


3.金相組織檢驗:柱狀晶幾乎“貫穿”焊縫,還有未焊透

把NG樣品焊縫位置切開、鑲樣、拋磨后在金相顯微鏡下觀察。

  • 基材(導流片和閥座)均是奧氏體組織。

PS:基材沒問題。

  • 焊縫區的晶粒是平行于厚度方向的柱狀晶,而且比較長,幾乎貫穿焊縫厚度。

NG樣品焊縫顯微組織與微觀圖

NG樣品焊縫顯微組織與微觀圖

  • 關鍵發現:焊縫局部熔深小于導流片厚度。

NG樣品局部熔深測量結果

NG樣品局部熔深測量結果

PS:也就是說——沒焊透。

結論:焊接熱輸入不足或工藝不當,導致柱狀晶在厚度方向上“野蠻生長”,同時根部出現未焊透。這種組織本身就存在強度薄弱區,再加上未焊透產生的應力集中,斷裂只是時間問題。


4.維氏硬度測試:焊縫比基材“軟”

對NG樣品進行硬度測試:

  • 導流片基材:約375~382 HV

  • 焊縫:約178~184 HV

  • 閥座基材:約307~311 HV

結論:焊縫硬度明顯低于兩側基材,這意味著焊縫本身就是整個結構的“軟肋”,在交變應力作用下更容易先失效。


Q:為什么會出現“凝固裂紋”?

A:激光焊接的特點是快速加熱、快速冷卻。這種熱過程下,晶粒會垂直于焊縫中心線生長,形成柱狀晶。同時,低熔點共晶和雜質容易在柱狀晶晶界處聚集,使晶界結合面變得脆弱。

在焊縫凝固結晶過程中,金屬收縮會產生拉應力。而晶界上的低熔點物質還沒來得及完全凝固,形成一層“液態薄膜”。拉應力作用在這個薄弱界面上,就造成了沿晶開裂——這就是典型的凝固裂紋。


根本原因:

焊接工藝不良,導致焊縫處存在焊接熱裂紋(凝固裂紋),在臺架試驗的循環應力下逐漸擴展,最終使導流片從焊縫處斷裂。

改進建議:

  1. 優化焊接工藝參數(激光功率、焊速、離焦量、氣流量等),降低熔池冷卻速度,讓低熔點金屬有足夠時間填充柱狀晶間隙。

  2. 在熱輸入一定的條件下,適當提高焊速,打亂柱狀晶的方向性,避免其“貫穿”焊縫。

  3. 盡量保證焊透,利用激光焊接的大深寬比優勢,提升焊縫實際承載厚度。

  4. 注意不同厚度材料的散熱差異,必要時調整工藝或采用坡口、夾具等輔助措施降低拘束度。

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